CEAG開關(guān)的閉合過程中會發(fā)生什么？

更新時間：2022-02-23

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　　CEAG開關(guān)具有隔離保護，阻止了內(nèi)部產(chǎn)生的熱量電火花與外界的危險爆炸性氣體的接觸，從而達到防爆的目的，適用于有著高電壓的場所。

　　當電場強度達到定程度后，靜觸頭材料的微觀端處的自由電子被拉出，進入觸頭空隙，并在電場的作用下向陽運動轟擊陽。同時，電子在空隙空間中轟擊氣體粒子，造成氣體粒子電離為正離子和電子，它們各自向陰和陽運動，形成了初始的電流。

　　陽離子轟擊陰使得陰材料迅速升溫，在金屬微觀端處電流密度加大，在不到個微秒的時間內(nèi)端處材料熔融汽化金屬蒸汽進入間隙，使得空間中電離加強，電流亦加大，電子逸出更多，產(chǎn)生了熱發(fā)射，終致空間中形成等離子體并引發(fā)電弧，這種現(xiàn)象隨著動觸頭與靜觸頭閉合而消失。動觸頭與靜觸頭閉合后，由于動觸頭存在動量，反彈使得動靜觸頭之間再次形成氣隙和電弧，然后再次反彈。

　　反彈的高度越來越低，后動靜觸頭閉合，完成了觸頭的閉合過程。可見，在開關(guān)閉合瞬間，電流是脈動的，直閉合。電流型的溫度開關(guān)動作溫度受電流影響較大，而溫度型的溫度開關(guān)只對溫度有較高的要求，由于電流不通過雙金屬片，因此電流熱效應(yīng)對于它的動作影響比較小。

　　CEAG開關(guān)的觸頭在閉合過程中發(fā)生的幾個物理現(xiàn)象有：強電場使得觸頭微觀端處電子逸出、電子的場致發(fā)射和熱發(fā)射、湯遜放電、巴申定律和擊穿電壓的巴申曲線、弧光放電、電子崩和流注、電弧現(xiàn)象、電接觸和霍姆效應(yīng)、金屬的熔融和蒸發(fā)，金屬蒸汽的電弧效應(yīng)等等。

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